图2是引脚的结构示意图；图中标记为：1、铝层；2、绝缘层；3、铜层；4、锡层；5、芯片；6、键合线；7、塑封体；8、引脚；801、***连接部；802、第二连接部；803、第三连接部。具体实施方式下面对照附图，通过对实施例的描述，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细的说明，目的是帮助本领域的技术人员对本实用新型的构思、技术方案有更完整、准确和深入的理解，并有助于其实施。需要说明的是，在下述的实施方式中，所述的“***”、“第二”和“第三”并不**结构和/或功能上的***区分关系，也不**先后的执行顺序，而**是为了描述的方便。如图1和图2所示，本实用新型提供了一种igbt模块，包括铝基板、芯片5、塑封体7和引脚8，铝基板设置于塑封体7的内部，芯片5焊接在铝基板上。引脚8包括与铝基板焊接的***连接部801、与***连接部801连接的第二连接部802和与第二连接部802连接且与***连接部801相平行的第三连接部803，***连接部801的长度l为，第二连接部802与第三连接部803之间的夹角α为120°。具体地说，如图1和图2所示，铝基板包括铝层1、设置于铝层1上的绝缘层2和设置于绝缘层2上的铜层3，***连接部801与铜层3焊接，铝层1材质为铝，铜层3材质为铜。
目前，为了防止高dV/dt应用于桥式电路中的IGBT时产生瞬时集电极电流，设计人员一般会设计栅特性是需要负偏置栅驱动的IGBT。然而提供负偏置增加了电路的复杂性，也很难使用高压集成电路（HVIC）栅驱动器，因为这些IC是专为接地操作而设计──与控制电路相同。因此，研发有高dV/dt能力的IGBT以用于“单正向”栅驱动器便**为理想了。这样的器件已经开发出来了。器件与负偏置栅驱动IGBT进行性能表现的比较测试，在高dV/dt条件下得出优越的测试结果。为了理解dV/dt感生开通现象，我们必须考虑跟IGBT结构有关的电容。图1显示了三个主要的IGBT寄生电容。集电极到发射极电容C，集电极到栅极电容C和栅极到发射极电容CGE。图1IGBT器件的寄生电容这些电容对桥式变换器设计是非常重要的，大部份的IGBT数据表中都给出这些参数：输出电容，COES＝CCE＋CGC（CGE短路）输入电容，CIES＝CGC＋CGE（CCE短路）反向传输电容，CRES＝CGC图2半桥电路图2给出了用于多数变换器设计中的典型半桥电路。集电极到栅极电容C和栅极到发射极电容C组成了动态分压器。当**IGBT（Q2）开通时，低端IGBT（Q1）的发射极上的dV/dt会在其栅极上产生正电压脉冲。对于任何IGBT。
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