
黑表笔所接的是控制极G,红表笔所接的是极K,余下的一只管脚为阳极A。单向可控硅性能检测编辑可控硅质量好坏的判别可以从四个方面进行。一是三个PN结应完好;第二是当阴极和阳极间电压反向连接时能够阻断,不导通;第三是当控制极开路时,阳极和阴极间的电压正向连接时也不导通;第四是给控制极加上正向电流,给阴极和阳极加正向电压时,可控硅应当导通,把控制极电流去掉,仍处于导通状态。用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻,就可对三个方面的好坏进行判断。具体方法是:用R×1k或R×10k挡测阴极和阳极之间的正反向电阻(控制极不接电压),此两个阻值均应很大。电阻值越大,表明正反向漏电电流愈小。如果测得的阻值很低,或近于无穷大,说明可控硅已经击穿短路或已经开路,此可控硅不能使用了。用R×1k或R×10k挡测阳极和控制极之间的电阻,正反向测量阻值均应几百千欧以上。用R×1k或R×100挡,测控制极和阴极之间的PN结的正反向电阻在几千欧左右,如出现正向阻值接近于零值或为无穷大,表明控制极和阴极之间的PN结已经损坏。反向阻值应很大,但不能为无穷大。正常情况是反向阻值明显大于正向阻值。万用表选电阻R×1挡,将黑表笔接阳极,红表笔仍接阴极。
因而一般家电中选用可控硅的电流值为实际工作电流值的2~3倍。同时,可控硅承受断态重复峰值电压VDRM和反向重复峰值电压VRRM时的峰值电流应小于器件规定的IDRM和IRRM。[1]·通态(峰值)电压VTM的选择:它是可控硅通以规定倍数额定电流时的瞬态峰值压降。为减少可控硅的热损耗,应尽可能选择VTM小的可控硅。[1]·维持电流:IH是维持可控硅保持通态所必需的小主电流,它与结温有关,结温越高,则IH越小。[1]·电压上升率的:dv/dt指的是在关断状态下电压的上升斜率,这是防止误触发的一个关键参数。此值超限将可能导致可控硅出现误导通的现象。由于可控硅的制造工艺决定了A2与G之间会存在寄生电容。[1]双向可控硅安装编辑对负载小,或电流持续时间短(小于1秒钟)的双向可控硅,可在自由空间工作。但大部分情况下,需要安装在散热器或散热的支架上,为了减小热阻,可控硅与散热器间要涂上导热硅脂。[1]双向可控硅固定到散热器的主要方法有三种,夹子压接、螺栓固定和铆接。前二种方法的安装工具很容易取得。很多场合下,铆接不是一种推荐的方法。[1]夹子压接:是推荐的方法,热阻小。夹子对器件的塑封施加压力。这同样适用于非绝缘封装(sot82和sot78)和绝缘封装。
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