
若能运用元器件的某一特性去合理地解释它在电路中的作用,说明电路分析很可能是正确的。例如,在上述电路分析中,只能用二极管的温度特性才能合理解释电路中VD1的作用。2)温度补偿电路的温度补偿是双向的,即能够补偿由于温度升高或降低而引起的电路工作的不稳定性。3)分析温度补偿电路工作原理时,要假设温度的升高或降低变化,然后分析电路中的反应过程,得到正确的电路反馈结果。在实际电路分析中,可以只设温度升高进行电路补偿的分析,不必再分析温度降低时电路补偿的情况,因为温度降低的电路分析思路、过程是相似的,只是电路分析的每一步变化相反。4)在上述电路分析中,VT1基极与发射极之间PN结(发射结)的温度特性与VD1温度特性相似,因为它们都是PN结的结构,所以温度补偿的结果比较好。5)在上述电路中的二极管VD1,对直流工作电压+V的大小波动无稳定作用,所以不能补偿由直流工作电压+V大小波动造成的VT1管基极直流工作电流的不稳定性。5.故障检测方法和电路故障分析这一电路中的二极管VD1故障检测方法比较简单,可以用万用表欧姆档在路测量VD1正向和反向电阻大小的方法。当VD1出现开路故障时,三极管VT1基极直流偏置电压升高许多。
沟槽穿透到衬底中向下至例如μm和8μm之间的水平。图2a至图2f图示了使用与图1的结构30相同的元件制造图1的结构30的变型的方法的实现方式的连续步骤。在图2a的步骤中,将沟槽22蚀刻到衬底中。为了实现这一点,作为示例,衬底被覆盖有未示出的掩模层,掩膜层例如由氧化硅制成。例如通过光刻将开口形成到未来沟槽位置上方的掩模层中,之后对沟槽进行蚀刻。然后去除掩蔽层。此后,例如通过沟槽壁的热氧化和/或通过沉积氧化硅层,共形地形成层308。层308覆盖沟槽壁。层308还可以覆盖沟槽外部的衬底20。层308的厚度小于沟槽宽度的一半,使得开口500保持在沟槽的中心处。在图2b的步骤中,利用区域306的传导材料来填充开口500,例如直到衬底的上部水平或者直到接近衬底的上部水平的水平。为此目的,例如执行掺杂多晶硅的共形沉积。然后将多晶硅向下蚀刻至期望水平。由此获得区域306。在图2c的步骤中,从未来区域302的上表面到下部水平蚀刻层308。作为示例,化学地执行蚀刻。因此,在区域306的任一侧上、在沟槽的上部部分中获得腔502。在图2d的步骤中,形成层304。为此目的,作为示例,沟槽壁和区域306的在图2c的步骤中可以接近的部分被热氧化。
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