
由于铅会破坏人类神经系统以及妨碍胎儿发育,故目前世界各国正努力寻找无铅接合材料。然而,无铅焊锡主要成份为锡银铜合金,该合金在高温环境下易形成介金属化合物(cu6sn5与cu3sn),一旦此介金属化合物形成后,接点在高温下(>150℃)的机械强度则降为原来的三分之一,且在长时间的热循环下容易形成孔洞,使得接合强度更为脆弱。再者,当孔洞形成后,增加高功率模块内部散热鳍片与功率集成电路(integratedcircuit,ic)组件的接口热阻,导致散热不易,终使得高功率模块热失效。故,一般无法符合使用者于实际使用时所需。技术实现要素:本发明的主要目的在于,克服已知技术所遭遇的上述问题,并提供一种使用的热接口材料在完成热处理后含少量有机物(<1%),且99%以上为纯银,故长时间使用下将无有机挥发物(volatileorganiccompounds,voc)的产生,且在高温下(<800℃)相当稳定,不会产生任何介金属化合物,从而不会有因制程(环境)温度而脆化的问题的高功率模块的制备方法。本发明的次要目的在于,提供一种使用的热接口材料为纯银,以高纯度银做异质界面接合用材料,其导热系数为锡银铜合金(无铅焊锡)的两倍以上,将可取代锡银铜合金及铅锡与银铅锡合金。
目前,半导体功率模块主要广泛应用在斩波或逆变电路中,如轨道交通、电动汽车、风力和光伏发电等电力系统以及家电领域。其中,半导体功率模块主要是由igbt(insulatedgatebipolartransistor,绝缘栅双极型晶体管)器件和fwd(freewheelingdiode,续流二极管)通过特定的电路桥接封装而成的模块化半导体产品。在实际应用中,为了保证半导体功率模块能够保证安全、可靠的工作,通常在半导体功率模块的dcb(directbondingcopper,陶瓷覆铜板)板上增加电流传感器以及温度传感器,从而实现对半导体功率模块中的器件进行过电流和温度的实时监控,方便电路进行保护。现有技术中主要通过在igbt器件芯片内集成电流传感器,并利用镜像电流检测原理实现电流的实时监控,如kelvin开尔芬连接,但这种方式得到的检测电流曲线与工作电流曲线并不对应,即得到的检测电流与工作电流的比例关系不固定,从而导致检测电流的精度和敏感性比较低。技术实现要素:有鉴于此,本发明的目的在于提供igbt芯片及半导体功率模块,以缓解上述技术问题,且,避免了栅电极因对地电位变化造成的偏差,提高了检测电流的精度。一方面,本发明实施例提供了一种igbt芯片。
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